Монография посвящена геометрическим основам кристаллографии Изложение базируется на четырех аксиомах: дискретности, покрытия, локального равенства, рациональности Эти аксиомы физически достаточно очевидны, чаълбато помогает выяснить причины кристаллообразования Все основные понятия кристаллографии (решетка, голоэдрия, сингония и так далее) получают строгие определения, а основные положения представлены в виде теорем Книга рассчитана на специалистов и учащихся, интересующихсбйньчя кристаллографией: математиков, физиков, химиков, минералогов 2-е издание, стереотипное Автор Равил Галиулин.